2a Edició - Codi 25813150/25811240

Array ( [CODIGO] => 25813150/25811240 [EDICION] => 2 [SITUACION] => Aprobado [SITUACION_BIS] => Pendiente [MATRICULA] => 2500 [MATRICULA_2] => 0 [MATRICULA_3] => 0 [HORAS] => 15.00 [FECHA_INICIO] => 12/01/2026 [FECHA_FIN] => 11/07/2026 [LUGAR] => ETSE [NOMBRE_EMPRESA_ORGANIZADOR] => Escola Tècnica Superior d'Enginyeria (ETSE-UV) [FECHA_FIN_PREINSCRIPCION] => 13/12/2025 [AREA] => 8 [NOMBRE_EMPRESA_PATROCINADO] => [NOMBRE_EMPRESA_COLABORADOR] => Analog Devices, S.L.U / Cátedra PERTE Chip en Semiconductores. Universitat de València - Estudi General / MaxLinear Hispania, S.L. [OBSERVACIONES_PREINSCRIPCION] => [TIPO_DOCENCIA] => Presencial [TIPO_DOCENCIA_1] => 1 [TIPO_DOCENCIA_2] => Presencial [AULA_VIRTUAL_ADEIT] => 0 [TIPO_CURSO] => Postgrado [TIPO_CURSO_1] => Título Propio de Pos [DIRECCION_URL] => [AÑO_CURSO] => 37 [URL_VIDEO] => [URL_FACEBOOK] => [URL_TWITTER] => [META_TITLE] => [META_DESCRIPTION] => [META_KEYWORDS] => arquitectura SoC, integración electrónica, arquitectura SoC, integració electrònica, SoC architecture, electronic integration [DIRECCION_CURSO_CORTO] => SoC [GESTOR_NOMBRE] => Victoria Silvia [GESTOR_APELLIDOS] => Fernández-Getino Hermano [GESTOR_EMAIL] => victoria.fernandez@fundacions.uv.es [ADMINISTRATIVO_NOMBRE] => David [ADMINISTRATIVO_APELLIDOS] => Siles [ADMINISTRATIVO_EMAIL] => david.siles@fundacions.uv.es [ES_INTERNO] => 1 [EMAIL_EXTERNO] => formacion@adeituv.es [PREINSCRIPCION_WEB] => 1 [URL_AULA_VIRTUAL] => [OFERTADO_OTRO] => 0 [ID_CURSO_OFERTADO] => 0 [DESCRIPCION_OFERTADO] => [TELEFONO_EXTERNO] => 96 160 3000 [MATRICULA_PDTE_APROBACION] => 0 [ID_IDIOMA] => 4 [PUBLICAR_WEB] => 1 [PLAN_MICROCREDS] => 0 [area_curs] => Ciència i Tecnologia [NOMBRE_CURSO] => Expert Universitari en Sistemes-en-Xip (SoC) [TITULACION] => Expert Universitari [HORARIO] => Vesprades i Dissabte [REQUISITOS_TITULACION] => Els perfils d'ingrés recomanat es correspondran als perfils formatius dels següents plans d'estudi a nivell de grau: Enginyeria Electrònica de Telecomunicació, Enginyeria en Tecnologies i Servicis de Telecomunicació, Enginyeria de Tecnologies de Telecomunicació, Enginyeria Electrònica Industrial, Enginyeria Electrònica i Automàtica Industrial, Enginyeria Electrònica Industrial i Automàtica, Informàtica Industrial i Robòtica, Enginyeria Informàtica, o graus, nacionals o estrangers, amb una alta afinitat als ací enumerats. En menor mesura, podrien considerar-se graduats en: Enginyeria de l'Energia, Enginyeria Aeroespacial, Enginyeria Telemàtica, Enginyeria Robòtica, Enginyeria Física, o títols afins. En casos excepcionals, podrien considerar-se perfils científics tradicionals com a Grau en Física, Grau en Matemàtiques o Grau en Ciència de Dades. Es permetrà l'accés a l'estudiantat que li falte menys d'un 10% dels crèdits per a acabar els estudis de grau, de forma condicionada al fet que s'aproven durant el mateix curs acadèmic. Respecte al perfil personal de l'estudiant que millor s'adapta, correspon a persones que vulguen aprofundir amb rigor en els coneixements i les habilitats que es requerixen per a especialitzar-se en les àrees descrites per a l'orientació professional. Així haurien de tindre una afinitat amb la microelectrònica com a motor en amplis sectors socioeconòmics, i especialment, com a contribució essencial en sectors estratègics industrials. Perfils professionals del sector amb voluntat d'assentar, reorientar o complementar la seua formació també seran adequats per a aquest títol. [REQUISITOS_OTROS] => [ARG_VENTA] => En els últims temps, les empreses del sector de la microelectrònica i els semiconductors han vist com les seues ofertes de treball quedaven sovint vacants per falta de persones amb la formació demandada per a llocs tan específics. Per tant, l'objectiu fonamental d'aquest títol és oferir a l'ecosistema VaSiC perfils professionals amb les competències necessàries per a ser directament incorporats en les seues plantilles. [ARG_VENTA2] => [AÑO_CURSO_DESC] => Curs 2025/2026 [MODALIDAD_EVALUACION] => El centre responsable del Títol d'Expert en Sistemes-en-Xip (SoC) és la Escola Tècnica Superior d'Enginyeria (ETSE), i s'impartirà de manera presencial, en castellà, en horari de divendres i dissabte. S'articularà un programa de beques finançat per la Càtedra PERTE Xip per a sufragar les matrícules de els/as estudiants d'aquest títol. Aquest títol propi es desenvolupa en 15 ECTS, entre els quals s'inclouen 6 de projecte industrial en microelectrònica amb empresa, fonamentalment de VaSiC. Els continguts d'aquest títol seran impartits en la seua pràctica totalitat per professorat especialista de les empreses de VaSiC. Totes les assignatures, tant les fonamentals com les optatives, inclouran continguts teòrics i continguts pràctics. L'alumnat disposarà d'ordinadors adequats amb les eines utilitzades en l'estàndard industrial per al desenvolupament i anàlisi dels sistemes que es proposen: Cadence, Synopsys, desenvolupament ARM, Matlab... També disposaran de l'instrumental necessari per al test i caracterització dels dispositius que s'estudien. Es preveuen pràctiques en sala blanca. [MODALIDAD_EVALUACION2] => [OBSERVACION_MATRICULA_1] => [OBSERVACION_MATRICULA_2] => [OBSERVACION_MATRICULA_3] => [SALIDA_PROFESIONAL] => Les eixides professionals previstes estan estretament vinculades als perfils més demandats en aquest àmbit, entre els quals es podrien destacar: Dissenyadors de sistema (arquitectura del xip, partició Hw/Sw, algorítmica, DSP...); desenvolupadors de flux de disseny digital; dissenyadors de processadors i memòries embegudes; enginyers de disseny físic (P&R); dissenyadors de dispositius (layout); enginyers d'estàndards; enginyers de microprogramari; enginyers de programari; enginyers de test; enginyers de qualitat i fiabilitat; enginyers d'embalatge (chiplet...); tecnòlegs; dissenyadors de dispositius optoelectrònics; dieñadores de PCBs;... [CRITERIO_ADMISION] => Com a criteris generals, la direcció del Màster utilitzarà els següents aspectes per a valorar les sol·licituds dels alumnes: - Titulació (tenint en compte l'afinitat del mateix amb els continguts del Màster). - Expedient acadèmic. - Curriculum vitae (valorant els cursos rebuts, els mèrits d'investigació i l'experiència professional, relacionats amb els continguts del Màster). En el cas que la demanda d'estudiants siga superior a l'oferta i siga necessària una selecció dels estudiants, aquesta serà realitzada d'acord amb criteris científics i acadèmics basats en la següent taula de ponderació: Formació de partida i títol amb el qual s'accedeix al Màster (els Graduat en Enginyeria Electrònica de Telecomunicacion i els Graduat en Enginyeria Electrònica Industrial obtenen la màxima puntuació). 30% Qualificació mitjana de l'expedient de la titulació d'accés. 40% Curriculum vitae presentat (amb justificació documental de mèrits al·legats). Si es considera convenient es podrà realitzar una entrevista personal sobre els mèrits al·legats i la prioritat del MOIE enfront d'altres màsters. 30% [CRITERIO_ADMISION2] => [CRITERIO_ADMISION3] => [FORMACION_APRENDIZAJE] => S'identifiquen els següents: -Dissenyar i programar sistemes integrats en xip (SoC). -Dissenyar, depurar i programar sistemes integrats multiprocessador complexos. -Generar middleware i programari de sistemes integrats adaptats a la seua arquitectura. -Dissenyar, programar i validar circuits i sistemes integrats d'aplicació específica. -Verificar i testar circuits integrats utilitzant diferents tecnologies i eines. -Analitzar aspectes metodològics i aspectes d'assemblatge i encapsulat de sistemes electrònics i fotònics. -Considerar competències de procés adequades en entorns de fabricació, testatge, assemblatge i encapsulat on es materialitzen els dissenys en les diferents tecnologies contemplades. -Monitorar i realitzar controls de qualitat dels diferents processos d'una seqüència de fabricació de semiconductors a través de diferents tipus de metrologia (mesures elèctriques, òptiques, optoelectròniques, etc.). -Gestionar i participar en processos de qualitat, fiabilitat i certificació. [FORMACION_APRENDIZAJE2] => [FORMACION_APRENDIZAJE3] => [ANO_CURSO_DESC] => Curs 2025/2026 [programa] => Array ( [0] => Array ( [CODIGO_CURSO] => 25813150/25811240 [AÑO_CURSO] => 37 [CODIGO] => 2 [NOMBRE_MATERIA] => Enginyeria de programari per a sistemes embeguts (S1) [NOMBRE_MATERIA_VAL] => Enginyeria de programari per a sistemes embeguts (S1) [DESCRIPCION] => programa || programa2 || programa3 [DESCRIPCION1] => Tema 1: Introducció als sistemes embeguts (1h) -Conceptes bàsics dels sistemes embeguts. Característiques diferencials -Tipus de sistemes embeguts -Aplicacions dels sistemes embeguts -Seguretat dels sistemes embeguts Tema 2: Llenguatges de programació per a sistemes embeguts (1h) -Llenguatges de baix nivell per a sistemes embeguts. Assemblador -Llenguatges d'alt nivell per a sistemes embeguts. C i eines de compilació. -Llenguatges de scripting útils -Interfície entre diferents llenguatges de programació Tema 3: Arquitectures SW/HW per a sistemes embeguts (1h) -CPUs -Memòries -Hosted/Hostless -Flaix/Flashless -SDK i API de clients -EVKs Tema 4: Desenvolupament de programari per a sistemes embeguts (1h) -Cicle de vida del desenvolupament de programari per a sistemes embeguts -Metodologies agiles de desenvolupament de programari per a sistemes embeguts -Eines de desenvolupament de programari per a sistemes embeguts Tema 5: Descripció de característiques desitjables del flux de desenvolupament (2h) -Reduccion del Time-to-market -Definició de requisits -Funcionals -Temporals -Cost -Etc. -Arquitectura de Sistema -Co-disseny HW/SW -Plataformes de proves HW/SW -Simulacions -Emuladors -FPGAs -Definició d'interfícies HW/SW -HW drivers -Procés de bringup -Test Driven Development (TDD) -Control de versions (SCM) -Gestió de tasques i errors en projectes (Agile + Jira) -Tests de Sistema -Sistemes d'Integració Contínua -Test benches -Documentació Tema 6: Disseny de programari per a sistemes embeguts (3h) -SW product line: HW and SW configurations -Arquitectura SW de capes, components i interfícies -Disseny per al re-use -Capes d'abstracció, HAL, OSAL. -Codi independent d'aplicació -Codi dependent d'aplicació -Components de tercers i qüestions legals -Disseny per a compatibilitat cap endarrere -Disseny escalable -Ús extensiu de tecnicas de programacion defensiva (assert) -Revisió mèdica de hard/soft deadlines -Xec [DESCRIPCION2] => o de problemes amb la memòria (overwrites, stack overflows, etc) -Sistemes operatius de temps real (RTOS) -Configuracion -Threads i prioritats -Interrupcions -Timers -Stacks -Primitives de comunicacion -Aplicacions multiprocessador -Utilitats de debug i analisis del rendiment -Problemes recurrents: -Thread preemption -Temps de resposta a interrupcions -Inversion de prioritats -Tipus de Components -HOST SW: drivers, apps, libs -Microprogramari: dev, prod, BIST, loader -Eines i scripts -Interface públics / privats Tema 7: Funcionalitats usuals en sistemes embeguts (2h) -Configuració especifica del producte -Producció -Remota -SW upgrades -SDK per a estendre/canviar funcionalitat -Flaix FS -Interfícies -JTAG -UART -SPI -Consola de debug/operacion -Watchdog -Eines de debug -Memòria dinàmica Tema 8: Optimització de SW en Sistemes Embeguts (2h) -Memòria vs Rendiment -Cost vs Facilitat en el desenvolupament -Requisits HW -Optimització de Memòria -Compactació d'estructures de dades -Dades en memòries compartides -Assignació de memòria (linker script) -Reutilització de memòria -Implementació de subsets de llibreries (matemàtiques, libc) Optimització de rendiment -Aritmètica de punt fix -Ús d'assemblador. -Re-escriptura de codi per a ús de HW específic (DSP) -DMA Tema 9: Anàlisi de fallades en Sistemes Embeguts (2h) -Requisits HW -JTAG -Unit Tests -Logs (serial, ethernet, files). -Debug Buffers -#CPU Trace buffer -Memory dumps -Anàlisi de problemes en temps. -Profiling -Analitze i visualització de dades. -Debug en sistemes multiprocessador LABORATORI: La duració de cada laboratori serà de 1,5h: Laboratori 1: Disseny de l'arquitectura d'un sistema embegut -Requisits -Arquitectura i codiseño HW/SW -Avantatges i desavantatges de les diferents opcions quant a cost, facilitat de desenvolupament, rendiment, etc. Laboratori 2: Màquina virtualizada per a desenvolupament -Virtualització de la plataforma de disseny (Docker) [DESCRIPCION3] => -Eines de desenvolupament (GNU) -Sistema de control de versions (GIT) -Unit tests (Google Test) -Anàlisi Estàtica de Codi (CppCheck) -Cobertura de testatge (Gcov) -Anàlisi dinàmica de Codi (Valgrind/Electric Fence) Laboratori 3: Implementació de plataforma SW independent de l'aplicació sobre un simulador de RTOS Laboratori 4: Implementació d'utilitats per a debug (I) Laboratori 5: Implementació d'utilitats per a debug (I) Laboratori 6: Implementació de Mock per a simular un HW especifique Laboratori 7: Implementació d'una aplicació real estafe exemple sobre la plataforma anterior (I) Laboratori 8: Implementació d'una aplicació real estafe exemple sobre la plataforma anterior (II) Laboratori 9: Debug funcional de l'aplicació Laboratori 10: Anàlisi de rendiment i ús de memòria [DESCRIPCION1_VAL] => Tema 1: Introducció als sistemes embeguts (1h) -Conceptes bàsics dels sistemes embeguts. Característiques diferencials -Tipus de sistemes embeguts -Aplicacions dels sistemes embeguts -Seguretat dels sistemes embeguts Tema 2: Llenguatges de programació per a sistemes embeguts (1h) -Llenguatges de baix nivell per a sistemes embeguts. Assemblador -Llenguatges d'alt nivell per a sistemes embeguts. C i eines de compilació. -Llenguatges de scripting útils -Interfície entre diferents llenguatges de programació Tema 3: Arquitectures SW/HW per a sistemes embeguts (1h) -CPUs -Memòries -Hosted/Hostless -Flaix/Flashless -SDK i API de clients -EVKs Tema 4: Desenvolupament de programari per a sistemes embeguts (1h) -Cicle de vida del desenvolupament de programari per a sistemes embeguts -Metodologies agiles de desenvolupament de programari per a sistemes embeguts -Eines de desenvolupament de programari per a sistemes embeguts Tema 5: Descripció de característiques desitjables del flux de desenvolupament (2h) -Reduccion del Time-to-market -Definició de requisits -Funcionals -Temporals -Cost -Etc. -Arquitectura de Sistema -Co-disseny HW/SW -Plataformes de proves HW/SW -Simulacions -Emuladors -FPGAs -Definició d'interfícies HW/SW -HW drivers -Procés de bringup -Test Driven Development (TDD) -Control de versions (SCM) -Gestió de tasques i errors en projectes (Agile + Jira) -Tests de Sistema -Sistemes d'Integració Contínua -Test benches -Documentació Tema 6: Disseny de programari per a sistemes embeguts (3h) -SW product line: HW and SW configurations -Arquitectura SW de capes, components i interfícies -Disseny per al re-use -Capes d'abstracció, HAL, OSAL. -Codi independent d'aplicació -Codi dependent d'aplicació -Components de tercers i qüestions legals -Disseny per a compatibilitat cap endarrere -Disseny escalable -Ús extensiu de tecnicas de programacion defensiva (assert) -Revisió mèdica de hard/soft deadlines -Xec [DESCRIPCION2_VAL] => o de problemes amb la memòria (overwrites, stack overflows, etc) -Sistemes operatius de temps real (RTOS) -Configuracion -Threads i prioritats -Interrupcions -Timers -Stacks -Primitives de comunicacion -Aplicacions multiprocessador -Utilitats de debug i analisis del rendiment -Problemes recurrents: -Thread preemption -Temps de resposta a interrupcions -Inversion de prioritats -Tipus de Components -HOST SW: drivers, apps, libs -Microprogramari: dev, prod, BIST, loader -Eines i scripts -Interface públics / privats Tema 7: Funcionalitats usuals en sistemes embeguts (2h) -Configuració especifica del producte -Producció -Remota -SW upgrades -SDK per a estendre/canviar funcionalitat -Flaix FS -Interfícies -JTAG -UART -SPI -Consola de debug/operacion -Watchdog -Eines de debug -Memòria dinàmica Tema 8: Optimització de SW en Sistemes Embeguts (2h) -Memòria vs Rendiment -Cost vs Facilitat en el desenvolupament -Requisits HW -Optimització de Memòria -Compactació d'estructures de dades -Dades en memòries compartides -Assignació de memòria (linker script) -Reutilització de memòria -Implementació de subsets de llibreries (matemàtiques, libc) Optimització de rendiment -Aritmètica de punt fix -Ús d'assemblador. -Re-escriptura de codi per a ús de HW específic (DSP) -DMA Tema 9: Anàlisi de fallades en Sistemes Embeguts (2h) -Requisits HW -JTAG -Unit Tests -Logs (serial, ethernet, files). -Debug Buffers -#CPU Trace buffer -Memory dumps -Anàlisi de problemes en temps. -Profiling -Analitze i visualització de dades. -Debug en sistemes multiprocessador LABORATORI: La duració de cada laboratori serà de 1,5h: Laboratori 1: Disseny de l'arquitectura d'un sistema embegut -Requisits -Arquitectura i codiseño HW/SW -Avantatges i desavantatges de les diferents opcions quant a cost, facilitat de desenvolupament, rendiment, etc. Laboratori 2: Màquina virtualizada per a desenvolupament -Virtualització de la plataforma de disseny (Docker) [DESCRIPCION3_VAL] => -Eines de desenvolupament (GNU) -Sistema de control de versions (GIT) -Unit tests (Google Test) -Anàlisi Estàtica de Codi (CppCheck) -Cobertura de testatge (Gcov) -Anàlisi dinàmica de Codi (Valgrind/Electric Fence) Laboratori 3: Implementació de plataforma SW independent de l'aplicació sobre un simulador de RTOS Laboratori 4: Implementació d'utilitats per a debug (I) Laboratori 5: Implementació d'utilitats per a debug (I) Laboratori 6: Implementació de Mock per a simular un HW especifique Laboratori 7: Implementació d'una aplicació real estafe exemple sobre la plataforma anterior (I) Laboratori 8: Implementació d'una aplicació real estafe exemple sobre la plataforma anterior (II) Laboratori 9: Debug funcional de l'aplicació Laboratori 10: Anàlisi de rendiment i ús de memòria [ORDEN] => 15 ) [1] => Array ( [CODIGO_CURSO] => 25813150/25811240 [AÑO_CURSO] => 37 [CODIGO] => 3 [NOMBRE_MATERIA] => Control de qualitat (QA) en sistemes embeguts (S2) [NOMBRE_MATERIA_VAL] => Control de qualitat (QA) en sistemes embeguts (S2) [DESCRIPCION] => programa || programa2 || programa3 [DESCRIPCION1] => TEORIA (15h) Tema 0: Conceptes de validació i assegurament de la qualitat (QA) -Model en V -Requisits -Proves -Depuració i defectes -Conceptes de CI i de #CD (Continuous Integration & Continuous Delivery) Tema 1: Definició de requisits -Requisits maquinari -Requisits programari -Requisits de sistema -Eines de gestió de requisits Tema 2: Definició de prova a partir de requisits -Eines existents vs pròpies -Tipus de proves (caixa negra, caixa blanca, funcionals, no funcionals...) -Definició d'indicadors clau de rendiment (KPI) a partir de requisits -Definició de criteris d'acceptació pass/fail Tema 3: Introducció a la validació de sistemes embeguts -Validació de sistemes embeguts vs sistemes programari: -Disponibilitat de recursos -Temps d'execució -Possibilitat d'automatització -Definició de sistema baix prova -Interacció amb el sistema baix prova Tema 4: Execució i automatització de proves -Definició de bancs de prova -Proves automàtiques vs manuals: Per què automatitzar -Automatització: -Codificació: Control de canvis -Instrumentació -Execució -Informes -Eines: -Llenguatges de programació per a proves automàtics -Eines per a registrar progrés de proves -Frameworks de prova -Recol·lecció organitzada de dades per a informe de defectes Tema 5: Defectes -Què és un defecte i com identificar-los -Com reportar un defecte correctament -Eines d'informe i traçabilitat de defectes Tema 6: CI per a productes embeguts -Què ofereix una eina de CI en la validació de productes embeguts: -Definició de treballs fàcilment repetibles -Distribució dels treballs entre maquinari disponible -Avantatges de tindre un CI automatitzat: -Optimització de temps maquina -Distribució de recursos -Informes de resultats automàtics -Gestió de bancs de prova: -Coexistència entre automatització i ús manual de recursos -Interacció dels components d'un entorn de CI [DESCRIPCION2] => -Eines habituals de CI: -Jenkins, Teamcity, Jira Workflow Tema 7: Obtenció i anàlisi d'indicadors clau de rendiment (KPI) -KPI relacionats amb el producte: -Rendiment -Estabilitat -Repetibilidad -KPI relacionats amb l'entorn de CI: -Cobertura de requisits -Temps entre detecció de defecte i l'arranjament -Ús de recursos LABORATORI (15h) Laboratori 1: Definir requisits a partir d'una descripció breu d'un producte. Laboratori 2: Definició de proves a partir de requisits. Pla de prova. Laboratori 3: Execució manual d'un pla de prova. Proves exploratòries. Laboratori 4: Automatització de les proves definides. Laboratori 5: Identificació i reporte de defectes a partir dels resultats de les proves. Laboratori 6: Creació d'un entorn CI complet. Laboratori 7: Definició de KPI a partir de requisits i resultats de les proves. [DESCRIPCION3] => [DESCRIPCION1_VAL] => TEORIA (15h) Tema 0: Conceptes de validació i assegurament de la qualitat (QA) -Model en V -Requisits -Proves -Depuració i defectes -Conceptes de CI i de #CD (Continuous Integration & Continuous Delivery) Tema 1: Definició de requisits -Requisits maquinari -Requisits programari -Requisits de sistema -Eines de gestió de requisits Tema 2: Definició de prova a partir de requisits -Eines existents vs pròpies -Tipus de proves (caixa negra, caixa blanca, funcionals, no funcionals...) -Definició d'indicadors clau de rendiment (KPI) a partir de requisits -Definició de criteris d'acceptació pass/fail Tema 3: Introducció a la validació de sistemes embeguts -Validació de sistemes embeguts vs sistemes programari: -Disponibilitat de recursos -Temps d'execució -Possibilitat d'automatització -Definició de sistema baix prova -Interacció amb el sistema baix prova Tema 4: Execució i automatització de proves -Definició de bancs de prova -Proves automàtiques vs manuals: Per què automatitzar -Automatització: -Codificació: Control de canvis -Instrumentació -Execució -Informes -Eines: -Llenguatges de programació per a proves automàtics -Eines per a registrar progrés de proves -Frameworks de prova -Recol·lecció organitzada de dades per a informe de defectes Tema 5: Defectes -Què és un defecte i com identificar-los -Com reportar un defecte correctament -Eines d'informe i traçabilitat de defectes Tema 6: CI per a productes embeguts -Què ofereix una eina de CI en la validació de productes embeguts: -Definició de treballs fàcilment repetibles -Distribució dels treballs entre maquinari disponible -Avantatges de tindre un CI automatitzat: -Optimització de temps maquina -Distribució de recursos -Informes de resultats automàtics -Gestió de bancs de prova: -Coexistència entre automatització i ús manual de recursos -Interacció dels components d'un entorn de CI [DESCRIPCION2_VAL] => -Eines habituals de CI: -Jenkins, Teamcity, Jira Workflow Tema 7: Obtenció i anàlisi d'indicadors clau de rendiment (KPI) -KPI relacionats amb el producte: -Rendiment -Estabilitat -Repetibilidad -KPI relacionats amb l'entorn de CI: -Cobertura de requisits -Temps entre detecció de defecte i l'arranjament -Ús de recursos LABORATORI (15h) Laboratori 1: Definir requisits a partir d'una descripció breu d'un producte. Laboratori 2: Definició de proves a partir de requisits. Pla de prova. Laboratori 3: Execució manual d'un pla de prova. Proves exploratòries. Laboratori 4: Automatització de les proves definides. Laboratori 5: Identificació i reporte de defectes a partir dels resultats de les proves. Laboratori 6: Creació d'un entorn CI complet. Laboratori 7: Definició de KPI a partir de requisits i resultats de les proves. [DESCRIPCION3_VAL] => [ORDEN] => 16 ) [2] => Array ( [CODIGO_CURSO] => 25813150/25811240 [AÑO_CURSO] => 37 [CODIGO] => 4 [NOMBRE_MATERIA] => Sistemes operatius en temps real (S3) [NOMBRE_MATERIA_VAL] => Sistemes operatius en temps real (S3) [DESCRIPCION] => programa || programa2 || programa3 [DESCRIPCION1] => TEORIA (10h) -Conceptes generals d'arquitectura de computadors -L'arquitectura (ISA: Instruction Set Architecture) -Diferències entre CISC i RISC -La #CPU (Unitat Central de Procés) -Unitat de control -ALU (Unitat Aritmètic-Lògica) -Busos -Cache d'instruccions -Pipelining -Registres -Cores -Memòria (#ROM, #RAM) -Memòria caixet -Perifèrics d'entrada/eixida -Interrupcions -Microcontroladors -Conceptes generals de programari -Llenguatges de programació -Relació entre joc d'instruccions, codi objecte i llenguatge assemblador -Tipus d'arxiu executable -Compiladors -El linker o enlazador -Linker scripts i scatter files -Memòria estàtica i dinàmica -El stack i el heap -El carregador d'arrencada o bootloader -Temps real i conceptes de RTOS -RTOS vs GPOS -Latency -RTOS vs bare-metall (super loop) -Kernel / Scheduler -preemptive estafe-slicing -cooperative estafe-slicing -Tick, Aneu-li task, Ticless aneu-li -Interrupcions maquinari i programari -Tasques i fils -thread stack -prioritats -Paral·lelisme i concurrència -Secció Crítica -Semàfors, mutex i operacions atòmiques -Cues de missatges o altres mecanismes -Condition variables -Problemes clàssics -productor/consumidor -condició de carrera -inversió de prioritats -Processadors multi-core -SMP (Symetric Multi-Processing) -AMP (Asymmetric Multi-Processing) -Comunicació entre tasques -Anàlisis dels RTOS més comunament usats -FreeRTOS -MicroC/US-II (uCOS) -ThreadX -RTEMS -Zephyr -VxWorks -RTOS en FPGAs -Processadors softcore. Exemples -Xilinx Microblaze -Tensilica Xtensa -Implementacions RISC-V (La meua-V RV32, NEORV32, FEMTORV32) LABORATORI (20h) Projecte d'un xicotet sistema controlat per RTOS: Control d'un ventilador accionat per motor #DC (PWM) de manera automàtica mitjançant sensor de temperatura i controlable mitjançant comandos per Ethernet. [DESCRIPCION2] => [DESCRIPCION3] => [DESCRIPCION1_VAL] => TEORIA (10h) -Conceptes generals d'arquitectura de computadors -L'arquitectura (ISA: Instruction Set Architecture) -Diferències entre CISC i RISC -La #CPU (Unitat Central de Procés) -Unitat de control -ALU (Unitat Aritmètic-Lògica) -Busos -Cache d'instruccions -Pipelining -Registres -Cores -Memòria (#ROM, #RAM) -Memòria caixet -Perifèrics d'entrada/eixida -Interrupcions -Microcontroladors -Conceptes generals de programari -Llenguatges de programació -Relació entre joc d'instruccions, codi objecte i llenguatge assemblador -Tipus d'arxiu executable -Compiladors -El linker o enlazador -Linker scripts i scatter files -Memòria estàtica i dinàmica -El stack i el heap -El carregador d'arrencada o bootloader -Temps real i conceptes de RTOS -RTOS vs GPOS -Latency -RTOS vs bare-metall (super loop) -Kernel / Scheduler -preemptive estafe-slicing -cooperative estafe-slicing -Tick, Aneu-li task, Ticless aneu-li -Interrupcions maquinari i programari -Tasques i fils -thread stack -prioritats -Paral·lelisme i concurrència -Secció Crítica -Semàfors, mutex i operacions atòmiques -Cues de missatges o altres mecanismes -Condition variables -Problemes clàssics -productor/consumidor -condició de carrera -inversió de prioritats -Processadors multi-core -SMP (Symetric Multi-Processing) -AMP (Asymmetric Multi-Processing) -Comunicació entre tasques -Anàlisis dels RTOS més comunament usats -FreeRTOS -MicroC/US-II (uCOS) -ThreadX -RTEMS -Zephyr -VxWorks -RTOS en FPGAs -Processadors softcore. Exemples -Xilinx Microblaze -Tensilica Xtensa -Implementacions RISC-V (La meua-V RV32, NEORV32, FEMTORV32) LABORATORI (20h) Projecte d'un xicotet sistema controlat per RTOS: Control d'un ventilador accionat per motor #DC (PWM) de manera automàtica mitjançant sensor de temperatura i controlable mitjançant comandos per Ethernet. [DESCRIPCION2_VAL] => [DESCRIPCION3_VAL] => [ORDEN] => 17 ) [3] => Array ( [CODIGO_CURSO] => 25813150/25811240 [AÑO_CURSO] => 37 [CODIGO] => 1 [NOMBRE_MATERIA] => Projecte industrial en microelectrònica [NOMBRE_MATERIA_VAL] => Projecte industrial en microelectrònica [DESCRIPCION] => programa || programa2 || programa3 [DESCRIPCION1] => Els continguts del "Projecte Industrial en Microelectrònica" seran diferents depenent dels objectius concrets del projecte a realitzar. Poden ser objecte de tema d'aquells que siguen propis dels estudis del títol. En particular, es podran projectar tota classe de sistemes i dispositius microelectrónicos per quants procediments permeta realitzar l'enginyeria actual. També podrà ser objecte del Projecte Industrial en Microelectrònica els treballs de recerca i desenvolupament, i el modelatge teòric o numèric dels dispositius, circuits o sistemes microelectrónicos. Es podran considerar així mateix els estudis relacionats amb els continguts del títol relatius a equips, fàbriques, instal·lacions, serveis o la seua planificació, gestió o explotació. [DESCRIPCION2] => [DESCRIPCION3] => [DESCRIPCION1_VAL] => Els continguts del "Projecte Industrial en Microelectrònica" seran diferents depenent dels objectius concrets del projecte a realitzar. Poden ser objecte de tema d'aquells que siguen propis dels estudis del títol. En particular, es podran projectar tota classe de sistemes i dispositius microelectrónicos per quants procediments permeta realitzar l'enginyeria actual. També podrà ser objecte del Projecte Industrial en Microelectrònica els treballs de recerca i desenvolupament, i el modelatge teòric o numèric dels dispositius, circuits o sistemes microelectrónicos. Es podran considerar així mateix els estudis relacionats amb els continguts del títol relatius a equips, fàbriques, instal·lacions, serveis o la seua planificació, gestió o explotació. [DESCRIPCION2_VAL] => [DESCRIPCION3_VAL] => [ORDEN] => 18 ) ) [professors] => Array ( [0] => Array ( [DNI] => uni8950 [NOMBRE_PERSONA] => Javier [APELLIDOS] => Calpe Maravilla [PDI] => 1 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => Departament d'Enginyeria Electrònica. Universitat de València [CARGO_FACULTAD] => Profesor/a Titular de Universidad [NPI] => H1225 [EMAIL_FACULTAD] => calpe@uv.es [CARGO_EMPRESA] => [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [1] => Array ( [DNI] => emp449370 [NOMBRE_PERSONA] => Francisco [APELLIDOS] => Escuder Roberto [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Responsable de software. MaxLinear Hispania, S.L. [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [2] => Array ( [DNI] => emp449372 [NOMBRE_PERSONA] => Luis Alfonso [APELLIDOS] => Espinosa Ortega [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Ingeniero de Firmware. Analog Devices, S.L.U [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [3] => Array ( [DNI] => emp503071 [NOMBRE_PERSONA] => Javier [APELLIDOS] => García Sevilla [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Systems Engineering Manager [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [4] => Array ( [DNI] => emp448952 [NOMBRE_PERSONA] => Francisco Javier [APELLIDOS] => Jiménez Marquina [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Director de Ingeniería.MaxLinear [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [5] => Array ( [DNI] => uni55806 [NOMBRE_PERSONA] => Fernando [APELLIDOS] => Pardo Carpio [PDI] => 1 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => Departament d'Informàtica. Universitat de València [CARGO_FACULTAD] => Catedrático/a de Universidad [NPI] => H1259 [EMAIL_FACULTAD] => pardo@uv.es [CARGO_EMPRESA] => [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [6] => Array ( [DNI] => uni15322 [NOMBRE_PERSONA] => Abilio Candido [APELLIDOS] => Reig Escriva [PDI] => 1 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => Departament d'Enginyeria Electrònica. Universitat de València [CARGO_FACULTAD] => Profesor/a Titular de Universidad [NPI] => H9057 [EMAIL_FACULTAD] => candid.reig@uv.es [CARGO_EMPRESA] => [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [7] => Array ( [DNI] => emp449373 [NOMBRE_PERSONA] => Antonio Jesús [APELLIDOS] => Rubio Salcedo [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Ingeniero de Verificación de Diseño. Analog Devices, S.L.U [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [8] => Array ( [DNI] => emp448953 [NOMBRE_PERSONA] => Rafael [APELLIDOS] => Serrano-Gotarredona [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Director General. ams-OSRAM [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) [9] => Array ( [DNI] => uni56161 [NOMBRE_PERSONA] => Jesús [APELLIDOS] => Soret Medel [PDI] => 1 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => Departament d'Enginyeria Electrònica. Universitat de València [CARGO_FACULTAD] => Profesor/a Titular de Universidad [NPI] => H8351 [EMAIL_FACULTAD] => Jesus.Soret@uv.es [CARGO_EMPRESA] => [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) ) [direccio] => Array ( [0] => Array ( [0] => Array ( [DNI] => uni15322 [NOMBRE_PERSONA] => Abilio Candido [APELLIDOS] => Reig Escriva [PDI] => 1 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => Departament d'Enginyeria Electrònica. Universitat de València [CARGO_FACULTAD] => Profesor/a Titular de Universidad [NPI] => H9057 [EMAIL_FACULTAD] => candid.reig@uv.es [CARGO_EMPRESA] => [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) ) [1] => Array ( [0] => Array ( [DNI] => uni56161 [NOMBRE_PERSONA] => Jesús [APELLIDOS] => Soret Medel [PDI] => 1 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => Departament d'Enginyeria Electrònica. Universitat de València [CARGO_FACULTAD] => Profesor/a Titular de Universidad [NPI] => H8351 [EMAIL_FACULTAD] => Jesus.Soret@uv.es [CARGO_EMPRESA] => [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) ) [2] => Array ( [0] => Array ( [DNI] => emp448952 [NOMBRE_PERSONA] => Francisco Javier [APELLIDOS] => Jiménez Marquina [PDI] => 4 [DEPARTAMENTO_FACULTAD] => [CARGO_FACULTAD] => [NPI] => [EMAIL_FACULTAD] => [CARGO_EMPRESA] => Director de Ingeniería.MaxLinear [DIRECCION_URL_POSTGRADO] => [URL_LINKEDIN_POSTGRADO] => ) ) ) )

Metodologia

El centre responsable del Títol d'Expert en Sistemes-en-Xip (SoC) és la Escola Tècnica Superior d'Enginyeria (ETSE), i s'impartirà de manera presencial, en castellà, en horari de divendres i dissabte. S'articularà un programa de beques finançat per la Càtedra PERTE Xip per a sufragar les matrícules de els/as estudiants d'aquest títol. Aquest títol propi es desenvolupa en 15 ECTS, entre els quals s'inclouen 6 de projecte industrial en microelectrònica amb empresa, fonamentalment de VaSiC. Els continguts d'aquest títol seran impartits en la seua pràctica totalitat per professorat especialista de les empreses de VaSiC. Totes les assignatures, tant les fonamentals com les optatives, inclouran continguts teòrics i continguts pràctics. L'alumnat disposarà d'ordinadors adequats amb les eines utilitzades en l'estàndard industrial per al desenvolupament i anàlisi dels sistemes que es proposen: Cadence, Synopsys, desenvolupament ARM, Matlab... També disposaran de l'instrumental necessari per al test i caracterització dels dispositius que s'estudien. Es preveuen pràctiques en sala blanca.

Preinscripciò al curs

Solicita información

Responsable: Universitat de València. Edifici del Rectorat. Av. Blasco Ibáñez, 13. 46010-València.
Delegat de Protecció de Dades: D. Javier Plaza Penadés lopd@uv.es
Finalitat: Enviar informació rellevant de cursos de postgrau.
S'obtenen perfils a fi de personalitzar el tracte conforme a les seves característiques o necessitats i poder així dirigir-li les novetats més convenients.
Legitimació: Per a l'enviament d'informació sobre els títols propis de la Universitat de València la base de legitimació és el consentiment de l'interessat.
Destinataris: Fundació Universitat-Empresa de Valéncia and Universitat de València
Termini: Les dades de l'Usuari seran conservats fins que sol·liciti la seva baixa, s'oposi o revoqui el seu consentiment.
Drets: Accedir, rectificar i suprimir les dades així com altres drets com s'explica a la informació addicional.
Amplieu informació: www.adeituv.es/politica-de-privacidad.

FAQS
 
Imprimir la informaciò